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理化分析仪器
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分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7
日期:2021-01-26 人气:4 收藏


分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7

分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7简介

 

  

a.可快速、准确测试多种非磁性金属基体(涡流法)上的绝缘涂层厚度;

b.探头和主机分离,适应性更强;

c.一键测试,方便快捷;

d.可采用单点校准和多点校准两种方法对仪器进行精确校准;

e.低功耗更省电,低电量报警;

f.带背光显示屏,蜂鸣器提示;

g.高耐磨探头,不低于80万次测量;

h.多种测量模式:单点测量、连续测量;

 

分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7简介

 

产品型号YT4200-P7
产品名称分体铝基涂层测厚仪
符合标准ASTM B499,ASTM D1400;
ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808;
GB/T 4956/4957,JB/T 8393
基体NFe
探头形式分体式
分辨率0.1/1μm
测量范围0~1250μm
测量精度零点校正:±(3%H+1)μm;
两点校正:±(1~3%H+1.5)μm;
注:H为样品厚度
小测量尺寸10×10mm
小测量厚度非磁性:0.05mm
小曲率凸面半径5mm;凹面半径10mm
显示单位μm
存储容量/
统计功能/
蓝牙/
电源2节5号电池(AA碱性电池或镍氢充电电池);
尺寸102×66×24mm
重量99g(含电池)
品质软件/
工作温度0~40ºC(10~90%RH无凝露)
储存温度 -10~50ºC
标准附件基体1块(铝基体),腕带,校准试片
可选附件校准试片(12μm,25μm)
注:技术参数仅为参考,以实际销售产品为准

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