HORIBA日本崛场 PX-375 X射线荧光连续颗粒监测仪

HORIBA日本崛场 PX-375 X射线荧光连续颗粒监测仪HORIBA日本崛场 PX-375 X射线荧光连续颗粒监测仪通过自动采样连续进行元素和颗粒质量分析人们越来越关注颗粒物(PM)污染及其对健康的影响。对于有效的预防措施,确定源PM浓度非常重要。因此,指示PM和元素浓度至关重要。PX-375分析仪采用自动采样,连续在线PM定量和定性分析,可快速测量空气污染。直接在现场通过单个单元连续分析

HORIBA日本崛场 PX-375  X射线荧光连续颗粒监测仪

HORIBA日本崛场 PX-375  X射线荧光连续颗粒监测仪

通过自动采样连续进行元素和颗粒质量分析

人们越来越关注颗粒物(PM)污染及其对健康的影响。对于有效的预防措施,确定源PM浓度非常重要。因此,指示PM和元素浓度至关重要。PX-375分析仪采用自动采样,连续在线PM定量和定性分析,可快速测量空气污染。

  • 直接在现场通过单个单元连续分析PM质量和元素浓度。

  • 采用世界公认的技术:X射线荧光和Beta射线衰减。

  • HORIBA的滤纸带具有出色的灵敏度和精确的性能

  • 安装的CMOS摄像头可以观察过滤器上收集的颗粒样本。

  • 用户友好的显示和操作

产品名称X射线荧光连续颗粒监测仪
模型PX-375
被测物颗粒物(PM 10,PM 2.5,TSP)
测量内容颗粒质量浓度和元素浓度

共同

流量16.7升/分钟
取样泵直线驱动系统,外部安装
滤纸带无纺布PTFE滤布
点带间隔20/25/50 / 100mm可选
滤带更换间隔大约 1个月(以100mm光斑间隔为例)
工作环境温度10˚C〜30˚C
相对湿度0〜80%RH不凝结
高度1000m以下
电源AC100V〜240V±10%,50 / 60Hz±1%
能量消耗大约 400VA
外形尺寸430mm(W)×550mm(D)×285mm(H)(不带采样管和测量头)
重量大约 40kg(不带采样管和测量头)
数据输出CSV文件(平均PM质量和元素浓度)
外部连接以太网TM,USB,RS-232C *(可选)

*请分别咨询通讯和仪器组成。

质量分析仪

测量方式Beta射线衰减
下午10点美国EPA百叶窗式PM 10入口
下午2.5BGI VSCC TM旋风分离器
TSPTSP入口
测量范围0〜200/500 /1000μg/ m 3
重复性±2%(相对于参考箔值)
跨度漂移±3%(24小时)
低检测限(2σ)±2μg/ m 3(24小时)
采样和测量周期0.5 / 1/2/3/4/6/8/12/24小时

元素分析仪单元

测量方式能量色散X射线光谱
可检测元素请参见表2“可检测元素”。
标准参数是S,Ti,Cr,Mn,Ni,Cu,Zn,Pb,Al,Si,K,Ca,V,Fe,As。
初级X射线滤光片自动切换轻金属/重金属
管电压自动切换15kV / 50kV
探测器SDD(硅漂移检测器)
样本图片CMOS相机
低检测限(2σ)推荐的EPA方法IO 3.3,
请参阅表1“低检测限(示例)”
测量范围直至测量时间
分析时间标配1000s(16.6分钟)
100/200/500/1000/2000/5000 / 10000s可选
标准参数的X射线强度校准材料NIST SRM 2783,其他材料(可选)
X射线的安全功能内部锁系统
钥匙开关
X射线指示灯


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